无机平台-球差校正透射电镜
仪器简介
日本电子球差校正透射电镜，球差校正后的空间分辨率为0.8 Å (1Å = 0.1 nm)，超高空间分辨率下，球差校正透射电镜兼具多种功能，可以在原子尺度内分析材料的晶体结构及元素分布等信息，是材料微观结构表征的利器，广泛应用于化学、材料和生物等领域的前沿科学研究。
仪器型号
JEOL ARM200F
技术参数
1. 分辨率：扫描透射像：0.08nm（加速电压200kV）；透射像：0.19nm（加速电压200kV）
2. 电子枪：肖特基场发射枪
3. 加速电压：80, 200kV
4. 放大倍数：扫描透射像：200至150,000,000x；透射像：50至2,000,000x
5. 样品台：样品台类型：全对中侧插式测角台； 样品尺寸：直径3mm；样品倾斜角：最大25°（标准双倾杆）
6. 球差校正器：照明系统球差校正器
2. 电子枪：肖特基场发射枪
3. 加速电压：80, 200kV
4. 放大倍数：扫描透射像：200至150,000,000x；透射像：50至2,000,000x
5. 样品台：样品台类型：全对中侧插式测角台； 样品尺寸：直径3mm；样品倾斜角：最大25°（标准双倾杆）
6. 球差校正器：照明系统球差校正器
仪器附件
Oneview相机：像素数≥4k×4k；
能谱：能量分辨率MnKa≤133eV；
原位加热样品杆：加热温度：室温-1300°C
能谱：能量分辨率MnKa≤133eV；
原位加热样品杆：加热温度：室温-1300°C
主要功能
透射电子高分辨像、电子衍射花样、扫描透射原子像（环形高角暗场像和明场像）、能量分散谱面扫、线扫等。
主要应用
透射电子高分辨像和电子衍射花样可用于分析材料的晶体结构，扫描透射原子像可用于精确分析原子占位及缺陷等，能谱仪可获取材料内的元素分布和含量等信息，同时配备了原位加热样品杆，可以在高真空环境下实时观察材料原位加热过程中结构变化过程。
联系方式
